第178章快閃記憶體良品率攻堅戰

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  李建明拿起報告,一行行掃過上面的測試數據,沉默不語。

  這已經是他們團隊熬的第七個通宵了。

  從聯盟訂單敲定的那天起,他就帶著快閃記憶體研發團隊扎進了實驗室。

  一遍遍地調整製程參數,優化生產工藝。

  可良率就像被施了魔咒一樣,始終卡在80%左右,死活上不去。

  這背後的壓力,讓他輾轉難眠。

  去年一整年,NOR快閃記憶體業務全靠集團補貼,虧了快3億港幣。

  集團內部早就有了不同的聲音。

  要不是陳總力排眾議,一直給資金、給資源支持,快閃記憶體業務早就被砍掉了。

  現在好不容易有了出貨的機會,要是成本降不下來,還是持續虧損。

  他根本沒法跟陳總交代。

  更沒法跟著他一起,打破日美韓在存儲晶片領域的壟斷。

  「沉住氣,越慌,心不靜,技術就越難突破。」

  李建明深吸一口氣,壓下心裡的焦躁,抬頭看向張誠,語氣沉穩,沒有絲毫責備:

  「把最近十輪的測試數據,還有晶圓切片的電鏡照片,全部調出來,我們一塊一塊找問題。

  良率上不去,肯定是某個環節出了問題。

  不可能平白無故卡在80%。

  我們把每一道工序都拆解開,總能找到癥結。」

  就在這時,實驗室的門被推開,王明德帶著晶圓製造團隊的核心工程師走了進來。

  手裡還拿著一疊厚厚的晶圓生產流程報表。

  「李總,聽說你們這邊遇到瓶頸了?」

  王明德笑著走了過來,把報表放在桌上:

  「林總讓我們過來支援。

  晶圓製造的全流程數據我們都帶來了。

  從晶圓清洗、光刻、蝕刻、離子注入。

  到最終的封裝測試。

  每一道工序的參數都在這裡。」

  看到王明德帶著團隊過來,李建明的眼睛瞬間亮了幾分。

  他是做快閃記憶體架構設計的,對晶片設計了如指掌。

  可晶圓製造的全流程工藝,最專業的還是王明德和他的團隊。

  之前良率上不去,很大一部分原因,就是設計和製造環節沒有完全打通。

  「王總,太感謝了!我正想找你幫忙呢!」

  李建明連忙起身,把測試報告遞了過去:

  「我們調整了無數次光刻參數。

  可晶圓邊緣的壞塊率始終降不下來。

  良率死活沖不破82%。」

  王明德接過報告,和身邊的工藝總工程師一起,仔仔細細地看了一遍。

  又翻了翻晶圓生產的全流程數據,很快就發現了問題所在。

  「李總,你看這裡。」王明德指著報表上的蝕刻工序參數:

  「你們為了優化浮柵的電荷保持能力,把濕法蝕刻的時間延長了3秒,對吧?」

  「對。」李建明立刻點頭:

  「延長蝕刻時間,浮柵的形貌更規整。

  電荷保持能力更好,晶片的穩定性也能提升。」

  「問題就出在這裡。」王明德語氣肯定:

  「濕法蝕刻時間延長3秒,晶圓中心區域的蝕刻效果剛好達標。

  可晶圓邊緣區域,蝕刻液的流速更快。

  蝕刻深度就超標了。

  直接導致邊緣區域的浮柵結構損壞,壞塊率飆升。

  這就是為什麼你們的良率始終卡在80%。

  因為每一片晶圓,邊緣區域的20%,幾乎都是壞的。」

  一句話,點醒了夢中人。

  李建明猛地拍了一下自己的額頭,臉上露出了恍然大悟的神情。

  他一直盯著晶片設計和光刻環節。

  卻忽略了蝕刻工藝的細微參數變化,對整片晶圓的均勻性影響。


  「那我們立刻調整蝕刻時間,把參數改回來!」張誠立刻說道。

  「別急。」王明德擺了擺手:

  「改回原來的參數,蝕刻均勻性是好了,可浮柵的電荷保持能力就下降了。

  晶片的使用壽命會受影響。

  我們的方案是,調整蝕刻機的噴淋參數,降低晶圓邊緣區域的蝕刻液流速。

  同時把蝕刻時間拆成兩段。

  中間加一次晶圓旋轉。

  保證整片晶圓的蝕刻均勻性。

  另外,晶圓清洗環節,我們也發現了問題。你們用的是傳統的RCA清洗工藝,顆粒去除率只有90%。

  晶圓表面的微小顆粒,也是導致良率下降的原因。

  我們可以把啟文半導體自研的兆聲波清洗工藝用上去,顆粒去除率能提升到99.9%。

  進一步降低壞塊率。」

  王明德的方案,一針見血,既解決了蝕刻均勻性的問題。

  又不影響晶片的性能,還補上了清洗環節的短板。

  李建明看著王明德,心裡滿是感激,立刻拍板:

  「就按王總的方案來。

  我們現在就去車間,調整設備參數,立刻做一輪試生產!」

  一群人立刻行動起來,凌晨四點的晶圓廠車間,依舊燈火通明。

  王明德帶著製造團隊,調整蝕刻機的噴淋參數和晶圓旋轉程序,優化清洗工藝。

  李建明帶著設計團隊,同步微調浮柵的設計參數,配合工藝優化。

  光刻團隊的工程師,也同步調整了曝光劑量,配合蝕刻工藝的變化。

  所有人都憋著一股勁,沒有一個人喊累,沒有一個人退縮。

  早上八點,第一片經過工藝優化的晶圓,完成了全部生產工序,送到了測試實驗室。

  所有人都圍在測試台旁,屏住呼吸,看著屏幕上的測試進度條一點點往前走。

  當進度條走到100%的那一刻,良率數據跳了出來。

  84.8%。

  「成了!我們成了!」

  實驗室里瞬間爆發出一陣歡呼,熬了好幾個通宵的工程師們,激動地互相擁抱,有人甚至紅了眼眶。

  84.8%,無限接近85%的目標,比之前的80%,整整提升了近5個百分點!

  「再做一輪優化。

  把光刻的線寬均勻性再提一點,我們沖85%!」

  李建明的聲音里,帶著壓抑不住的激動。

  大手一揮,團隊立刻又投入到了新一輪的微調中。

  當天下午,經過第二輪工藝優化的晶圓,測試結果出來了。

  良率穩定在了85.3%,完全達成了陳總定下的目標!

  財務團隊也同步算出了成本變化。

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